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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2019-04-02T05:58:38Z	Resistive Switching Characteristics and Reliability of SiNx-Based Conductive Bridge Random Access Memory	Lin, Chun-An; Dai, Guang-Jyun; Tseng, Tseung-Yuen
國立交通大學	2018-01-24T07:37:01Z	利用碲為源層及增強阻障特性於氮化矽金屬導電橋接電阻式記憶體之可靠度優化研究	戴光駿; 曾俊元; Dai, Guang-Jyun; Tseng, Tseung-Yuen

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