臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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机构	日期	题名	作者
臺大學術典藏	2021-12-30T03:02:02Z	Non-Volatile Ferroelectric FETs Using 5-nm HfZrO with High Data Retention and Read Endurance for 1T Memory Applications	K.-T. Chen; H.-Y. Chen; C.-Y. Liao; G.-Y. Siang; C. Lo; M.-H. Liao; K.-S. Li; S. T. Chang; M.-H. Lee; MING-HAN LIAO
臺大學術典藏	2019-03-11T08:02:13Z	Sub-60mV/dec Subthreshold Swing on Reliability of Ferroelectric HfZrOx Negative-Capacitacne FETs with DC Sweep and AC Stress Cycles	Y.-C. Chou; Z.-Y. Wang; S.-Y.Chen; G.-Y. Siang; H.-Y. Chen; C. Lo; P.-G. Chen; Y.-J. Lee; K.-S.Li; S. T. Chang; M. H. Lee; M. H. Lee;S. T. Chang;K.-S.Li;Y.-J. Lee;P.-G. Chen;C. Lo;H.-Y. Chen;G.-Y. Siang;S.-Y.Chen;Z.-Y. Wang;Y.-C. Chou;S.-S. Gu;R.-C. Hong;C.-Y. Liao;K.-T. Chen;M. H.Liao; M. H.Liao; K.-T. Chen; C.-Y. Liao; R.-C. Hong; S.-S. Gu
臺大學術典藏	2019-03-11T08:02:13Z	Sub-60mV/dec Subthreshold Swing on Reliability of Ferroelectric HfZrOx Negative-Capacitacne FETs with DC Sweep and AC Stress Cycles	Y.-C. Chou; Z.-Y. Wang; S.-Y.Chen; G.-Y. Siang; H.-Y. Chen; C. Lo; P.-G. Chen; Y.-J. Lee; K.-S.Li; S. T. Chang; M. H. Lee; M. H. Lee;S. T. Chang;K.-S.Li;Y.-J. Lee;P.-G. Chen;C. Lo;H.-Y. Chen;G.-Y. Siang;S.-Y.Chen;Z.-Y. Wang;Y.-C. Chou;S.-S. Gu;R.-C. Hong;C.-Y. Liao;K.-T. Chen;M. H.Liao; M. H.Liao; K.-T. Chen; C.-Y. Liao; R.-C. Hong; S.-S. Gu

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