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机构	日期	题名	作者
義守大學	2017-05	Ge/IIIV fin field-effect transistor common gate process and numerical simulations	Bo-Yuan Chen;Jiann-Lin Chen;Chun-Lin Chu;Guang-Li Luo;Shyong Lee;Edward Yi Chang
國立交通大學	2014-12-12T01:13:33Z	複晶矽雙閘極薄膜電晶體特性及電性擾動分析	陳玲; Leng Chan; 林鴻志; 黃調元; 羅廣禮; Horng-Chih Lin; Tiao-Yuan Huang; Guang-Li Luo

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