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机构 日期 题名 作者
臺大學術典藏 2018-09-10T07:41:36Z A Novel 0.7V Two-Port 6T SRAM Memory Cell Structure with Single-Bit-Line Simultaneous Read-and-Write Access (SBLSRWA) Capability using Partially Depleted SOI Dynamic-Threshold Technique S. C. Liu; J. B. Kuo; JAMES-B KUO
臺大學術典藏 2018-09-10T07:41:36Z Semiconductor R&D in Taiwan J. B. Kuo; JAMES-B KUO
臺大學術典藏 2018-09-10T07:41:35Z A CMOS Semi-Static Latch Circuit without Charge Sharing and Leakage Current Problems P. F. Lin; J. B. Kuo; JAMES-B KUO
臺大學術典藏 2018-09-10T07:41:35Z A Low-Voltage Semi-Dynamic DCVSPG-Domino Logic Circuit J. H. Lou; J. B. Kuo; JAMES-B KUO
臺大學術典藏 2018-09-10T07:41:35Z Modeling of Deep-Submicron SOI CMOS VLSI Devices J. B. Kuo; JAMES-B KUO
臺大學術典藏 2018-09-10T07:08:19Z Gate-Level Dual-Threshold Total Power Optimization Methodology (GDTPOM) Principle for Designing High-Speed Low-Power SOC Applications R. Chen; R. Liu; J. B. Kuo; JAMES-B KUO
臺大學術典藏 2018-09-10T07:08:19Z Analysis of STI Mechanical-Stress Induced Effects on 40nm PD SOI NMOS Devices J. B. Kuo; J. B. Kuo; JAMES-B KUO
臺大學術典藏 2018-09-10T07:08:19Z Analysis of STI Mechanical-Stress Induced Effects on 40nm PD SOI NMOS Devices J. B. Kuo; J. B. Kuo; JAMES-B KUO
臺大學術典藏 2018-09-10T07:08:19Z Transient Behavior of 40nm PD SOI NMOS Device Considering STI-Induced Mechanical Stress Effects J. S. Su;J. B. Kuo; J. S. Su; J. B. Kuo; JAMES-B KUO
臺大學術典藏 2018-09-10T07:08:19Z Transient Behavior of 40nm PD SOI NMOS Device Considering STI-Induced Mechanical Stress Effects J. S. Su;J. B. Kuo; J. S. Su; J. B. Kuo; JAMES-B KUO

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