English  |  正體中文  |  简体中文  |  總筆數 :2856640  
造訪人次 :  53513557    線上人數 :  976
教育部委託研究計畫      計畫執行:國立臺灣大學圖書館
 
臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)
關於TAIR

瀏覽

消息

著作權

相關連結

"y l yang"的相關文件

回到依作者瀏覽
依題名排序 依日期排序

顯示項目 16-28 / 28 (共2頁)
1 2 > >>
每頁顯示[10|25|50]項目

機構 日期 題名 作者
國立中山大學 2004 Leptin and connective tissue growth factor in advanced glycation end-product-induced effects in NRK-49F cells C.I. Lee;J.Y. Guh;H.C. Chen;K.H. Lin;Y.L. Yang; W.C. Hung;Y.H. Lai;Y.J. Chuang
國立中山大學 2002 Silicide Formation of Au Thin Films on (100) Si During Annealing J.F. Chang; T.F. Young; Y.L. Yang; H.Y. Ueng; T.C. Chang
國立中山大學 2000 Study on the Si-Si Surface Vibrational States of Porous Si T.F. Young; J.P. Chen;J.F. Liou;Y.L. Yang; T.C. Chang; C.Y. Chang
中原大學 1999 Expert System for Enhancing Voltage Security/Stability in Power Systems Y.Y. Hong;Y.L. Yang
國立中山大學 1998 Raman and Fourier Transform Infrared Spectroscopy Study on the Si-Si Vibrational States Near Surface Regions of Porous Silicon T.F. Young;J.F. Liou;J.P. Chen;Y.L. Yang;T.C. Chang
國立中山大學 1998 Study on the Si-Si Surface Vibrational States of Porous Si T.F. Young;J.P. Chen;J.F. Liou;Y.L. Yang;T.C. Chang;C.Y. Chang
國立中山大學 1997 Study on the Si-Si Surface Vibrational States of Porous Si T.F. Young;J.F. Liou;Y.L. Yang;T.C. Chang;C.Y. Chang
國立中山大學 1997 DC Conductivity of Metallic Thin Film with Fractal Structure T.F. Young;H.J. Fang;J.F. Liou;Y.L. Yang;T.C. Chang;C.Y. Chang
國立中山大學 1996 Atomic Force Microscopic Study On the Surface Structure of Oxidized Porous Silicion T.F. Young; I.W. Hunag; Y.L. Yang; W.C. Kuo; I.M. Jiang; T.C. Chang; C.Y. Chang
國立中山大學 1996 Atomic Force Microscope Study on the Surface Structure of Oxidized Porous Silicon T.F. Young;I.W. Huang;Y.L. Yang;W.C. Kuo;I.M. Jiang;T.C. Chang;C.Y. Chang
國立中山大學 1996 Atomic Force Microscope Study on the Surface Structure of Oxidized Porous Silicon T.F. Young;I.W. Huang;Y.L. Yang;W.C. Kuo;I.M. Jiang;T.C. Chang;C.Y. Chang
國立中山大學 1996 Study on conductivity of Ag thin film depositd on oxidized porpus silibon T.F. Young;Y.L. Yang;I.W. Huang
國立中山大學 1995 Atomic Force Microscopy Study on the Surface Structure of Oxidized Porous Silicon T.F. Young;I.W. Huang;Y.L. Yang;W.C. Kuo;I.M. Jiang;T.C. Chang;C.Y. Chang

顯示項目 16-28 / 28 (共2頁)
1 2 > >>
每頁顯示[10|25|50]項目