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國立中山大學 2002 Effect of the annealing temperature on the electronic and atomic structures of exchange-biased NiFe-FeMn bilayers J.M. Lee;J.C. Jan;J.W. Chiou;W.F. Pong;M.H. Tsai;Y.K. Chang;Y.Y. Chen;C.R. Wang;J.F. Lee;T. Yang;Z. Lu;W.Y. Lai;Z.H. Mai
國立中山大學 2002 Angle-dependent x-ray absorption spectroscopy study of Zn-doped GaN J.W. Chiou;S. Mookerjee;K.V.R. Rao;J.C. Jan;H.M. Tsai;K. Asokan;W.F. Pong;F.Z. Chien;M.H. Tsai;Y.K. Chang;Y.Y. Chen;J.F. Lee;C.C. Lee;G.C. Chi
國立中山大學 2002 Electronic structure of the carbon nanotube tips studied by x-ray-absorption spectroscopy and scanning photoelectron microscopy J.W. Chiou;C.L. Yueh;J.C. Jan;H.M. Tsai;W.F. Pong;I.H. Hong;R. Klauser;M.H. Tsai;Y.K. Chang;Y.Y. Chen;C.T. Wu;K.H. Chen;S.L. Wei;C.Y. Wen;L.C. Chen;T.J. Chuang
國立中山大學 2001-10-18 Investigation on the Destruction of Caisson Type Wharfs During Chi-Chi Earthquake in Taiwan H.H. Lee;Y.Y. Chen;S.W. Shyue
國立中山大學 2001-01 Indium Tin Oxide by Oxygen Annealing Thermal-Evaporated Indium-Tin Thin Film Deposited on Glass and Zinc Sulfur Selenium Substrate M.K. Lee;T.H. Shih;C.C. Lan;K.P. Chen;Y.Y. Chen
國立中山大學 2001 Electronic structure of oxidized Ni/Au contacts on p-GaN investigated by x-ray absorption spectroscopy J.C. Jan;K. Asokan;J.W. Chiou;W.F. Pong;P.K. Tseng;M.H. Tsai;Y.K. Chang;Y.Y. Chen;J.F. Lee;J.S. Wu;H.J. Lin;C.T. Chen;L.C. Chen;F.R. Chen;J.K. Ho
國立中山大學 2001 Electronic structure of the Fe-layer catalyzed carbon nanotubes studied by x-ray-absorption spectroscopy C.L. Yueh;C.J. Jan;J.W. Chiou;W.F. Pong;M.H. Tsai;Y.K. Chang;Y.Y. Chen;Y.F. Lee;P.K. Tseng;S.L. Wei;C.Y. Wen;L.C. Chen;K.H. Chen
國立中山大學 2001 The effect of annealing time on the electronic structure of the Fe-Cu-Nb-Si-B alloys Y.K. Chang;Y.H. Cheng;W.F. Pong;M.H. Tsai;Y.Y. Chen;J.W. Chiou;J.C. Jan;F.Z. Chien;P.K. Tseng;T.E. Dann;M.S. Len;T.S. Chin
國立中山大學 2001 X-ray absorption studies of carbon-related materials W.F. Pong;C.L. Yueh;Y.D. Chang;M.H. Tsai;Y.K. Chang;Y.Y. Chen;J.F. Lee;S.L. Wei;C.Y. Wen;L.C. Chen;K.H. Chen;I.N. Lin;H.F. Cheng
國立中山大學 2001 Electronic and bonding structures of amorphous Si-C-N thin films by x-ray absorption spectroscopy H.M. Tsai;J.C. Jan;J.W. Chiou;W.F. Pong;M.H. Tsai;Y.K. Chang;Y.Y. Chen;Y.W. Yang;L.J. Lai;J.J. Wu;C.T. Wu;K.H. Chen;L.C. Chen

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