|
English
|
正體中文
|
简体中文
|
总笔数 :0
|
|
造访人次 :
52960689
在线人数 :
1502
教育部委托研究计画 计画执行:国立台湾大学图书馆
|
|
|
"yan chin rung"的相关文件
显示项目 1-8 / 8 (共1页)
1
每页显示[10|25|50]项目
| 國立成功大學 |
2013-11 |
Characteristics of Sub-50 nm NAND Flash Devices with Various Self-Aligned Shallow Trench Isolation Depths
|
Yan, Chin-Rung; Chen, Jone F.; Lee, Ya-Jui; Huang, Wei-Shiang; Huang, Meng-Ju; Chen, Chih-Yuan; Lin, Ying-Chia; Chang, Kuei-Fen; Chen, Huei-Haurng |
| 國立成功大學 |
2013-05-13 |
快閃記憶體元件及周邊電路之可靠度研究
|
嚴進嶸; Yan, Chin-Rung |
| 國立成功大學 |
2013-05-03 |
快閃記憶體元件及周邊電路之可靠度研究
|
嚴進嶸; Yan, Chin-Rung |
| 國立成功大學 |
2013-04 |
Characteristics of Lateral Diffused Metal-Oxide-Semiconductor Transistors with Lightly Doped Drain Implantation through Gradual Screen Oxide
|
Yan, Chin-Rung; Chen, Jone F.; Lin, Chung-Yi; Hsu, Hao-Tang; Liao, Yu-Jie; Yang, Min-Ti; Chen, Chih-Yuan; Lin, Yin-Chia; Chen, Huei-Haurng |
| 國立成功大學 |
2013-03 |
Extraction and Analysis of Interface States in 50-nm NAND Flash Devices
|
Yan, Chin-Rung; Chen, Jone F.; Lee, Ya-Jui; Liao, Yu-Jie; Lin, Chung-Yi; Chen, Chih-Yuan; Lin, Yin-Chia; Chen, Huei-Haurng |
| 國立成功大學 |
2011-06 |
Analysis of GIDL-Induced OFF-State Breakdown in High-Voltage Depletion-Mode nMOSFETs
|
Chen, Jone F.; Yan, Chin-Rung; Lin, Yin-Chia; Fan, Jhen-Jhih; Yang, Sheng-Fu; Shih, Wen-Chieh |
| 國立成功大學 |
2007-06-21 |
高壓元件p型橫向雙擴散金氧半場效電晶體之 熱載子可靠度的機制研究
|
嚴進嶸; Yan, Chin-Rung |
| 國立成功大學 |
2007-06-21 |
高壓元件p型橫向雙擴散金氧半場效電晶體之 熱載子可靠度的機制研究
|
嚴進嶸; Yan, Chin-Rung |
显示项目 1-8 / 8 (共1页)
1
每页显示[10|25|50]项目
|
