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| 臺大學術典藏 |
2018-09-10T06:54:27Z |
Electronic and atomic structures of Si-C-N thin film by X-ray-absorption spectroscopy
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Chang, Y.K.; Hsieh, H.H.; Tsai, M.-H.; Lee, K.H.; Dann, T.E.; Chien, F.Z.; Tseng, P.K.; Tsang, K.L.; Su, W.K.; Chen, L.C.; Wei, S.L.; Chen, K.H.; Bhusari, D.M.; Chen, Y.F.; YANG-FANG CHEN |
| 國立臺灣大學 |
1998-01 |
Electronic and Atomic Structures of SiCN Thin Film by X-ray Absorption Spectroscopy
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Pong, W. F.; Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Tsai, M.-H.; Lee, K. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Bhusari, D. M.; Chen, Y. F. |
| 國立臺灣大學 |
1998-01 |
Electronic and Atomic Structures of SiCN Thin Films by X-ray Absorption Spectroscopy and Theoretical Calculations
|
Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Pong, W. F.; Tsai, M.-H.; Lee, K. H.; Dann, D. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Chen, Y. F.; Bhusari, D. M. |
| 淡江大學 |
1998-05 |
Electronic and atomic structures of Si–C–N thin film by X-ray-absorption spectroscopy
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Pong, W. F.; Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Tsai, M. H.; Lee, K. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Bhusari, D. M.; Chen, Y. F. |
| 國立臺灣大學 |
1998 |
Electronic and atomic structures of Si–C–N thin film by X-ray-absorption spectroscopy
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Pong, W. F.; Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Tsai, M. -H.; Lee, K. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Bhusari, D. M.; Chen, Y. F. |
| 淡江大學 |
2005 |
Electronic and atomic structures of the nano-material studied by X-ray absorption spectroscopy and scanning photoelectron microscopy
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邱昭文; Chiou, Jau-wern |
| 淡江大學 |
1998-10 |
Electronic and atomic structures of the Si-C-N thin film by x-ray-absorption spectroscopy and theoretical calculations
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Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Pong, Way-faung; Tsai, M.-H.; Lee, K. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Bhusari, D. M.; Chen, Y. F. |
| 國立臺灣大學 |
1998 |
Electronic and atomic structures of the Si-C-N thin film by x-ray-absorption spectroscopy and theoretical calculations
|
Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Pong, W. F.; Tsai, M.-H.; Lee, K. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Bhusari, D. M.; Chen, Y. F. |
| 臺大學術典藏 |
1998 |
Electronic and atomic structures of the Si-C-N thin film by x-ray-absorption spectroscopy and theoretical calculations
|
Hsieh, H.H.; Pong, W.F.; Tsai, M.-H.; Lee, K.H.; Dann, T.E.; Chien, F.Z.; Tseng, P.K.; Tsang, K.L.; Su, W.K.; Chen, L.C.; Wei, S.L.; Chen, K.H.; Bhusari, D.M.; Chen, Y.F.; YANG-FANG CHEN |
| 臺大學術典藏 |
2022-08-09T03:50:57Z |
Electronic and atomic structures of the Si-C-N thin film by x-ray-absorption spectroscopy and theoretical calculations
|
Chang Y.; Hsieh H.; Pong W.; Tsai M.; Lee K.; Dann T.; Chien F.; Tseng P.; Tsang K.; Su W.; Chen L.; Wei S.; Chen K.; Bhusari D.; Chen Y.; Chang Y.; Chen L.; Wei S.; Chen Y.; LI-CHYONG CHEN |
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