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机构 日期 题名 作者
國立臺灣大學 2001-12 Oxide roughness enhanced reliability of MOS tunneling diodes Lin, C.H.; Lee, M.H.; Hsu, B.C.; Chen, K.F.; Shie, C.R.; Liu, C.W.
臺大學術典藏 2018-09-10T07:01:14Z Oxide scalability in Al [sub 2] O [sub 3]/Ga [sub 2] O [sub 3](Gd [sub 2] O [sub 3])/In [sub 0.20] Ga [sub 0.80] As/GaAs heterostructures Tung, LT; Hong, M; Kwo, J; Tsai, W; MINGHWEI HONG; Chang, P; Shiu, KH; Chiang, CH; Lee, YJ; Lee, WC
臺大學術典藏 2019-12-27T07:49:41Z Oxide scalability in Al2 O3 Ga2 O3 (Gd2 O3) In0.20 Ga0.80 AsGaAs heterostructures Shiu, K.H.; Chiang, C.H.; Lee, Y.J.; Lee, W.C.; Chang, P.; Tung, L.T.; Hong, M.; Kwo, J.; Tsai, W.; MINGHWEI HONG
臺大學術典藏 2018-09-10T07:01:20Z Oxide scalability in Al2O3/Ga2O3 (Gd2O3)/In0. 20Ga0. 80As/GaAs heterostructures Shiu, KH; Chiang, CH; Lee, YJ; Lee, WC; Chang, P; Tung, LT; Hong, M; Kwo, J; Tsai, W; MINGHWEI HONG
臺大學術典藏 2022-09-21T23:30:16Z Oxide Semiconductor Field-Effect Transistor for High-Resolution Displays Capable of Deep Black Display Okazaki, Yutaka; Sawai, Hiromi; Endo, Masami; Motoyoshi, Ryousuke; Shimada, Daigo; Kunitake, Hitoshi; Yamazaki, Shunpei; Huang, Kou Chang; Yoshida, Hiroshi; Chen, Min Cheng; MING-HAN LIAO; Chang, Shou Zen
國立臺灣科技大學 2012 Oxide solar cells fabricated using zinc oxide and plasma-oxidized cuprous oxide Chan, Y.-M.;Wu, Y.-T.;Jou, S.
國立交通大學 2014-12-08T15:46:47Z Oxide thickness dependence of plasma charging damage Lin, HC; Chen, CC; Wang, MF; Hsien, SK; Chien, CH; Huang, TY; Chang, CY
國立聯合大學 2004 Oxide Thickness Dependent Suboxide Width and Its Effect on Inversion Tunneling Current 胡振國, Y.P.Lin and J.G.Hwu
國立臺灣大學 2004 Oxide Thickness Dependent Suboxide Width and Its Effect on Inversion Tunneling Current Lin, Yen-Po; Hwu, Jenn-Gwo
國立交通大學 2014-12-08T15:21:32Z Oxide Thinning and Structure Scaling Down Effect of Low-Temperature Poly-Si Thin-Film Transistors Ma, William Cheng-Yu; Chiang, Tsung-Yu; Lin, Je-Wei; Chao, Tien-Sheng

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