| 臺大學術典藏 |
2019-12-27T01:18:23Z |
Difference in direct charge-parity violation between charged and neutral B meson decays
|
Lin, S.-W.; Unno, Y.; Hou, W.-S.; Chang, P.; Adachi, I.; Aihara, H.; Akai, K.; Arinstein, K.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Aziz, T.; Bakich, A.M.; Balagura, V.; Barberio, E.; Bay, A.; Bedny, I.; Bitenc, U.; Bondar, A.; Bozek, A.; Bra?ko, M.; Browder, T.E.; Chang, M.-C.; Chao, Y.; Chen, A.; Chen, K.-F.; Chen, W.T.; Cheon, B.G.; Chiang, C.-C.; Chistov, R.; Cho, I.-S.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Choi, Y.K.; Cole, S.; Dalseno, J.; Danilov, M.; Dash, M.; Drutskoy, A.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fratina, S.; Fujikawa, M.; Furukawa, K.; Gabyshev, N.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Ha, H.; Haba, J.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hazumi, M.; Heffernan, D.; Hokuue, T.; Hoshi, Y.; Hsiung, Y.B.; Hyun, H.J.; Iijima, T.; Ikado, K.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Ishino, H.; Itoh, R.; Iwabuchi, M.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Kah, D.H.; Kaji, H.; Kataoka, S.U.; Kawai, H.; Kawasaki, T.; Kibayashi, A.; Kichimi, H.; Kikutani, E.; Kim, H.J.; Kim, S.K.; Kim, Y.J.; Kinoshita, K.; Korpar, S.; Kozakai, Y.; Kri?an, P.; Krokovny, P.; Kumar, R.; Kuo, C.C.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lee, M.J.; Lee, S.E.; Lesiak, T.; Li, J.; Liu, Y.; Liventsev, D.; Mandl, F.; Marlow, D.; McOnie, S.; Medvedeva, T.; Mimashi, T.; Mitaroff, W.; Miyabayashi, K.; Miyake, H.; Miyazaki, Y.; Mizuk, R.; Mori, T.; Nakamura, T.T.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nakazawa, H.; Nishida, S.; Nitoh, O.; Noguchi, S.; Nozaki, T.; Ogawa, S.; Ogawa, Y.; Ohshima, T.; Okuno, S.; Olsen, S.L.; Ozaki, H.; Pakhlova, G.; Park, C.W.; Park, H.; Peak, L.S.; Pestotnik, R.; Peters, M.; Piilonen, L.E.; Poluektov, A.; Sahoo, H.; Sakai, Y.; Schneider, O.; Sch?mann, J.; Schwartz, A.J.; Seidl, R.; Senyo, K.; Sevior, M.E.; Shapkin, M.; Shen, C.P.; Shibuya, H.; Shidara, T.; Shinomiya, S.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Singh, J.B.; Sokolov, A.; Somov, A.; Stani?, S.; Stari?, M.; Sumisawa, K.; Sumiyoshi, T.; Suzuki, S.; Tajima, O.; Takasaki, F.; Tamura, N.; Tanaka, M.; Tawada, M.; Taylor, G.N.; Teramoto, Y.; Tikhomirov, I.; Trabelsi, K.; Uehara, S.; Ueno, K.; Uglov, T.; Uno, S.; Urquijo, P.; Ushiroda, Y.; Usov, Y.; Varner, G.; Varvell, K.E.; Vervink, K.; Villa, S.; Wang, C.C.; Wang, C.H.; Wang, M.-Z.; Watanabe, Y.; Wedd, R.; Wicht, J.; Won, E.; Yabsley, B.D.; Yamaguchi, A.; Yamashita, Y.; Yamauchi, M.; Yoshida, M.; Yuan, C.Z.; Yusa, Y.; Zhang, C.C.; Zhang, Z.P.; Zhilich, V.; Zhulanov, V.; Zupanc, A.; Lin, S.-W.; KAI-FENG CHEN; WEI-SHU HOUet al. |
