English  |  正體中文  |  简体中文  |  2856708  
???header.visitor??? :  53578903    ???header.onlineuser??? :  784
???header.sponsordeclaration???
 
臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)
???ui.leftmenu.abouttair???

???ui.leftmenu.bartitle???

???index.news???

???ui.leftmenu.copyrighttitle???

???ui.leftmenu.link???

???jsp.browse.items-by-title.jump??? [ ???jsp.browse.general.jump2chinese??? ] [ ???jsp.browse.general.jump2numbers??? ] [ A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z ]
???jsp.browse.items-by-title.enter???   

Showing items 381466-381475 of 2349067  (234907 Page(s) Totally)
<< < 38142 38143 38144 38145 38146 38147 38148 38149 38150 38151 > >>
View [10|25|50] records per page

Institution Date Title Author
臺大學術典藏 2018-09-10T06:54:27Z Electronic and atomic structures of Si-C-N thin film by X-ray-absorption spectroscopy Chang, Y.K.; Hsieh, H.H.; Tsai, M.-H.; Lee, K.H.; Dann, T.E.; Chien, F.Z.; Tseng, P.K.; Tsang, K.L.; Su, W.K.; Chen, L.C.; Wei, S.L.; Chen, K.H.; Bhusari, D.M.; Chen, Y.F.; YANG-FANG CHEN
臺大學術典藏 2022-08-09T03:50:57Z Electronic and atomic structures of Si-C-N thin film by X-ray-absorption spectroscopy Pong W.F.; Chang Y.K.; Hsieh H.H.; Tsai M.-H.; Lee K.H.; Dann T.E.; Chien F.Z.; Tseng P.K.; Tsang K.L.; Su W.K.; Chen L.C.; Wei S.L.; Chen K.H.; Bhusari D.M.; Chen Y.F.; Pong W.F.; Chen L.C.; Wei S.L.; Chen Y.F.; LI-CHYONG CHEN
國立臺灣大學 1998-01 Electronic and Atomic Structures of SiCN Thin Film by X-ray Absorption Spectroscopy Pong, W. F.; Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Tsai, M.-H.; Lee, K. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Bhusari, D. M.; Chen, Y. F.
國立臺灣大學 1998-01 Electronic and Atomic Structures of SiCN Thin Films by X-ray Absorption Spectroscopy and Theoretical Calculations Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Pong, W. F.; Tsai, M.-H.; Lee, K. H.; Dann, D. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Chen, Y. F.; Bhusari, D. M.
淡江大學 1998-05 Electronic and atomic structures of Si–C–N thin film by X-ray-absorption spectroscopy Pong, W. F.; Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Tsai, M. H.; Lee, K. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Bhusari, D. M.; Chen, Y. F.
國立臺灣大學 1998 Electronic and atomic structures of Si–C–N thin film by X-ray-absorption spectroscopy Pong, W. F.; Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Tsai, M. -H.; Lee, K. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Bhusari, D. M.; Chen, Y. F.
淡江大學 2005 Electronic and atomic structures of the nano-material studied by X-ray absorption spectroscopy and scanning photoelectron microscopy 邱昭文; Chiou, Jau-wern
國立臺灣大學 1998 Electronic and atomic structures of the Si-C-N thin film by x-ray-absorption spectroscopy and theoretical calculations Chang, Y. K.; Hsieh, H. H.; Pong, W. F.; Tsai, M.-H.; Lee, K. H.; Dann, T. E.; Chien, F. Z.; Tseng, P. K.; Tsang, K. L.; Su, W. K.; Chen, L. C.; Wei, S. L.; Chen, K. H.; Bhusari, D. M.; Chen, Y. F.
臺大學術典藏 1998 Electronic and atomic structures of the Si-C-N thin film by x-ray-absorption spectroscopy and theoretical calculations Hsieh, H.H.; Pong, W.F.; Tsai, M.-H.; Lee, K.H.; Dann, T.E.; Chien, F.Z.; Tseng, P.K.; Tsang, K.L.; Su, W.K.; Chen, L.C.; Wei, S.L.; Chen, K.H.; Bhusari, D.M.; Chen, Y.F.; YANG-FANG CHEN
臺大學術典藏 2022-08-09T03:50:57Z Electronic and atomic structures of the Si-C-N thin film by x-ray-absorption spectroscopy and theoretical calculations Chang Y.; Hsieh H.; Pong W.; Tsai M.; Lee K.; Dann T.; Chien F.; Tseng P.; Tsang K.; Su W.; Chen L.; Wei S.; Chen K.; Bhusari D.; Chen Y.; Chang Y.; Chen L.; Wei S.; Chen Y.; LI-CHYONG CHEN

Showing items 381466-381475 of 2349067  (234907 Page(s) Totally)
<< < 38142 38143 38144 38145 38146 38147 38148 38149 38150 38151 > >>
View [10|25|50] records per page