臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

???ui.leftmenu.abouttair???
	???ui.leftmenu.explanation???

???ui.leftmenu.bartitle???
	Repositories
	Author
	Title
	Date
	???ui.leftmenu.statisticschart???
	???ui.leftmenu.realtimefacts???
	???ui.leftmenu.trend???

???index.news???
	2019臺灣學術機構典藏研討會
	機構典藏系統RC7版本已發佈

???ui.leftmenu.copyrighttitle???
	???ui.leftmenu.copyrightpublisher???
	???ui.leftmenu.copyrightconference???

???ui.leftmenu.link???
	機構典藏計畫網站
	ROAR
	OpenDOAR
	SHERPA
	OAIster
	JAIRO
	Ira
	DSPACE
	RWWR
	臺大學術典藏NTU Scholars

???jsp.browse.items-by-title.jump??? [ ???jsp.browse.general.jump2chinese??? ] [ ???jsp.browse.general.jump2numbers??? ] [ A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z ]

???jsp.browse.items-by-title.enter???

Showing items 814231-814255 of 2349067 (93963 Page(s) Totally)
<< < 32565 32566 32567 32568 32569 32570 32571 32572 32573 32574 > >>
View [10|25|50] records per page

Institution	Date	Title	Author
朝陽科技大學	2022	test1017-1	歐秋菊
朝陽科技大學	2017-12	TEST1228	林泊建
國立臺灣大學	2020	test123	江玉婷
元智大學	2015	TEST123789	Hoder Adam Lee
輔英科技大學	2015-01	test2	admin,admin
臺大學術典藏	2019-12-10T03:43:07Z	test2	Chiang, CJ
朝陽科技大學	2016-12-05	TEST20161213	林泊建; Lin
朝陽科技大學	2017-12	TEST2017	林泊建
朝陽科技大學	2017-12	TEST20171227	林泊建
朝陽科技大學	2017-12	TEST20171228	林泊建
國立高雄應用科技大學	2019-01-10	test20190110	崑山-, 王意順
朝陽科技大學	2017-12	TEST3	林泊建
國立空中大學	200	test4upload	test
國立空中大學	200	test4upload	test
國立中山大學	2009	test4upload	Hung-Yi,Chi
朝陽科技大學	2017-12	TEST55	林泊建
朝陽科技大學	2017-12	TEST6	林泊建
朝陽科技大學	2017-12	TEST7	林泊建
元智大學	2015	TEST998877	Hoder Lee
臺大學術典藏	2021-03-13T03:00:46Z	Test?etest reliability of the 20-min pad test with infusion of strong-desired volume in the bladder for female urodynamic stress incontinence	Wu W.-Y.; Hsiao S.-M.; PEI-CHI WU; Lin H.-H.
中山醫學大學	2022	testabc	惠珠, 施
國立臺灣科技大學	2016	Testability for resistive open defects by electrical interconnect test of 3D ICs without boundary scan flip flops	Ali, F.A.B;Hashizume, M;Ikiri, Y;Yotsuyanagi, H;Lu, S.-K.
臺大學術典藏	2020-06-11T06:50:38Z	Testability Measures Considering Circuit Reconvergence to Reduce ATPG Runtime	Chen, K.-H.;Chen, C.-Y.;Huang, J.-L.; Chen, K.-H.; Chen, C.-Y.; Huang, J.-L.; JIUN-LANG HUANG
國立交通大學	2014-12-08T15:27:35Z	Testable design and testing of MCMs based on multifrequency scan	Tseng, WD; Wang, KC
國立臺灣科技大學	2013	Testable design for electrical testing of open defects at interconnects in 3D ICs	Hashizume, M.;Konishi, T.;Yotsuyanag, H.;Lu, S.-K.

Showing items 814231-814255 of 2349067 (93963 Page(s) Totally)
<< < 32565 32566 32567 32568 32569 32570 32571 32572 32573 32574 > >>
View [10|25|50] records per page

	English \| 正體中文 \| 简体中文 \| 2856655
	???header.visitor??? : 53555332 ???header.onlineuser??? : 1181 ???header.sponsordeclaration???