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机构	日期	题名	作者
國立中山大學	2009	Process and design considerations for redistribution in wafer level chip size packaging technology for high power device applications	J. Chen;Y.S. Lai;C.A. Hsieh;C.Y. Hu
國立中山大學	2009	Process and design considerations for redistribution in wafer level chip size packaging technology for high power device applications	J. Chen;Y.S. Lai;C.A. Hsieh;C.Y. Hu
國立中山大學	2006	A Risk-Based Contingency Selection Method For SPS Applications	T.Y. Hsiao; C.A. Hsieh; C.N. Lu

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