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| 大葉大學 |
2000 |
ESD robustness designs of power MOSFET ICs
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陳勝利 |
| 大葉大學 |
2000-11 |
ESD Robustness Designs of Power MOSFET ICs
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陳勝利 |
| 國立成功大學 |
2024 |
ESD Robustness of Germanium Photodetectors in Advanced Silicon Photonics Technology
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Chen;S, -H.;Fu;P, -Y.;Tsiara;A;Peer, van de;M;Simicic;M;Musibau;S;Ban;Y;Kao;K, -H.;Chen;W, -C.;Serbulova;K;Campenhout, Van;J;Absil;P;Croes;K |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:15:20Z |
ESD robustness of thin-film devices with different layout structures in LTPS technology
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Deng, Chih-Kang; Ker, Ming-Dou |
| 國立交通大學 |
2017-04-21T06:48:20Z |
ESD Self-Protection Design on 2.4-GHz T/R Switch for RF Application in CMOS Process
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Lin, Chun-Yu; Liu, Rui-Hong; Ker, Ming-Dou |
| 亞洲大學 |
2010-10 |
ESD Simulation on GGNMOS for 40V BCD
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許健;Sheu, Gene;楊紹明;Yang, Shao-Ming |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:26:50Z |
ESD test methods on integrated circuits: An overview
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Ker, MD; Peng, JH; Jiang, HC |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:23:05Z |
ESD-Aware Circuit Design in CMOS Integrated Circuits to Meet System-Level ESD Specification in Microelectronic Systems
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Ker, Ming-Dou |
| 國立交通大學 |
2018-08-21T05:57:09Z |
ESD-Induced Latchup-Like Failure in a Touch Panel Control IC
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Ker, Ming-Dou; Chiu, Po-Yen; Shieh, Wuu-Trong; Wang, Chun-Chi |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:15:20Z |
ESD-protection design with extra low-leakage-current diode string for RF circuits in SiGeBiCMOS process
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Ker, Ming-Dou; Hsiao, Yuan-Wen; Wu, Woei-Lin |
显示项目 397606-397615 / 2348973 (共234898页)
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