| 臺大學術典藏 |
2019-09-09T00:45:37Z |
Test beam demonstration of silicon microstrip modules with transverse momentum discrimination for the future CMS tracking detector
|
Piotrzkowski, K.;Dragicevic, M.;Magitteri, A.;Peltola, T.;Bruyn, I. De;Clerbaux, B.;Fasanella, G.;Python, Q.;Wang, Q.;Mechelen, P. Van;Brun, H.;König, A.;Krintiras, G.;Beliy, N.;Spilbeeck, A. Van;Daubie, E.;Caudron, A.;Hrubec, J.;Grebenyuk, A.;Mertens, A.;Skovpen, K.;Yonamine, R.;Remortel, N. Van;Deroover, K.;Hammad, G. H.;Vannerom, D.;Clercq, J. De;Bergauer, T.;D'Hondt, J.;Treberspurg, W.;Hoch, M.;Quertenmont, L.;Waltenberger, W.;Zenoni, F.;Delannoy, H.;Luetic, J.;Komm, M.;Boudoul, G.;Brondolin, E.;Adam, W.;Bruno, G.;Jeneret, J. De Favereau De;Janssen, X.;Bondu, O.;Yang, Y.;Postiau, N.;Visscher, S. De;Jafari, A.;Jamoulle, J. Cabrera;Bakhshiansohi, H.;Maerschalk, T.;Zhang, F.;Frühwirth, R.;Mulders, P. Van;Dupasquier, T.;Francois, B.;Parijs, I. Van;Wertz, S.;Giammanco, A.;Musich, M.;Lemaitre, V.;Alderweireldt, S.;Blekman, F.;Léonard, A.;Szilasi, N.;Marinov, A.;Lowette, S.;Caebergs, T.;Karapostoli, G.;Lauwers, J.;Härkönen, J.;Randle-Conde, A.;Tuominen, E.;Seva, T.;Favart, L.;Moreels, L.;Goldouzian, R.;Beaumont, W.;Tuovinen, E.;Michotte, D.;Gallbit, G.;Baulieu, G.;Combaret, C.;Delcourt, M.;Caponetto, L.;Steininger, H.;Lampén, T.;Delaere, C.;Friedl, M.;Zeid, S. Abu;Luukka, P.;Vanlaer, P.;Beghin, D.;Contardo, D.;Lenzi, T.;Lentdecker, G. De;Eerola, P.;Brochet, S.;Moortgat, S.;Marono, M. Vidal; Marono, M. Vidal; Moortgat, S.; Brochet, S.; Eerola, P.; Lentdecker, G. De; Lenzi, T.; Contardo, D.; Beghin, D.; Vanlaer, P.; Luukka, P.; Zeid, S. Abu; Friedl, M.; Delaere, C.; Lampen, T.; Steininger, H.; Caponetto, L.; Delcourt, M.; Combaret, C.; Baulieu, G.; Gallbit, G.; Michotte, D.; Tuovinen, E.; Beaumont, W.; Goldouzian, R.; Moreels, L.; Favart, L.; Seva, T.; Tuominen, E.; Randle-Conde, A.; Harkonen, J.; Lauwers, J.; Karapostoli, G.; Caebergs, T.; Lowette, S.; Marinov, A.; Szilasi, N.; Leonard, A.; Blekman, F.; Alderweireldt, S.; Lemaitre, V.; Musich, M.; Maerschalk, T.; Bakhshiansohi, H.; Jamoulle, J. Cabrera; Jafari, A.; Visscher, S. De; Postiau, N.; Yang, Y.; Bondu, O.; Janssen, X.; Jeneret, J. De Favereau De; Bruno, G.; Adam, W.; Brondolin, E.; Boudoul, G.; Komm, M.; Luetic, J.; Delannoy, H.; Zenoni, F.; Waltenberger, W.; Quertenmont, L.; Hoch, M.; Treberspurg, W.; D'Hondt, J.; Bergauer, T.; Clercq, J. De; Vannerom, D.; Hammad, G. H.; Deroover, K.; Remortel, N. Van; Yonamine, R.; Skovpen, K.; Mertens, A.; Grebenyuk, A.; Hrubec, J.; Caudron, A.; Daubie, E.; Spilbeeck, A. Van; Beliy, N.; Krintiras, G.; Konig, A.; Brun, H.; Mechelen, P. Van; Wang, Q.; Python, Q.; Fasanella, G.; Clerbaux, B.; Bruyn, I. De; Peltola, T.; Magitteri, A.; Dragicevic, M.; Piotrzkowski, K.; Giammanco, A.; Wertz, S.; Parijs, I. Van; Francois, B.; Dupasquier, T.; Mulders, P. Van; Fruhwirth, R.; Zhang, F. |
